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無狹縫平場(chǎng)極紫外光譜儀maxLIGHT

產(chǎn)品型號(hào):
更新時(shí)間:2026-06-23
廠商性質(zhì):代理商
訪問量:178
服務(wù)熱線13810233784(同微信)
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無狹縫平場(chǎng)極紫外光譜儀maxLIGHT:
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· 專有無狹縫設(shè)計(jì),實(shí)現(xiàn)高效率
· 波長(zhǎng)范圍:1–200 nm
· 集成光束分析儀(Beam Profiler)
· 模塊化、一體化交鑰匙設(shè)計(jì)
maxLIGHT 采用專有的無狹縫設(shè)計(jì),實(shí)現(xiàn)了最大光收集效率。其像差校正的平場(chǎng)光譜覆蓋范圍為 1–200 nm,并支持寬光譜帶寬,例如單塊光柵可覆蓋 5–80 nm 的波段范圍。
模塊化設(shè)計(jì)可適配多種實(shí)驗(yàn)幾何結(jié)構(gòu)和配置需求。maxLIGHT 配備集成式狹縫支架、濾光片插入單元,以及電動(dòng)光柵定位系統(tǒng)。
探測(cè)器可選配置包括:
· XUV CCD 探測(cè)器
· MCP/CMOS 探測(cè)器 —— 提供最寬波長(zhǎng)覆蓋范圍,并支持門控/增強(qiáng)型探測(cè)器
如需進(jìn)一步匹配您的實(shí)驗(yàn)需求,歡迎聯(lián)系我們進(jìn)行詳細(xì)討論。
此外,我們還可提供 maxLIGHT 光譜儀的定制化衍生版本。
無狹縫設(shè)計(jì)(No-slit Design)
HP Spectroscopy 專有的光譜儀設(shè)計(jì)采用直接源成像(Direct Source Imaging)方式,因此無需使用傳統(tǒng)的窄入射狹縫,從而很大程度提升光收集效率。
與傳統(tǒng)光譜儀結(jié)構(gòu)相比,該設(shè)計(jì)可使進(jìn)入探測(cè)器的光通量提高約 20倍。同時(shí),這種架構(gòu)也顯著提升了日常運(yùn)行的穩(wěn)定性和可靠性。

無狹縫平場(chǎng)極紫外光譜儀maxLIGHT技術(shù)指標(biāo)


Plasma Phys. Control. Fusion 53 124021 (2011)

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